基于 STM32F103VF 测试某型导弹发控设备的测试精度与参数设计

• 作者: 徐金榜 朱琳 沈安文 马秉亮
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: STM32F103VF 微控制器 通道 发控设备
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 187-190,219
• 页数: 5页
• 分类号: TP29
• 字数: 2807字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2015.02.007

摘要

为实现装备保障快速检测、修理与维护，基于对 STM32F103VF 系列微控制器的研究，开发新型采集测试系统。文章主要对测试通道设计和精度需求进行分析，并应用于测试某型便携导弹发控设备，满足对装备实测要求，降低了电源的要求，大大缩小测试电路的尺寸，对测试设备实现了极大的小型化和便携化[1]，同时满足战场快速技术保障的战斗力要求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐金榜	华中科技大学自动化学院	53	565	12.0	22.0
2	沈安文	华中科技大学自动化学院	84	574	12.0	20.0
3	朱琳	华中科技大学自动化学院	21	88	5.0	8.0
4	马秉亮	华中科技大学自动化学院	1	1	1.0	1.0