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摘要:
数据采样精度和采样速率是A/D转换的重要技术指标.目前受半导体工艺技术的限制,高采样精度的A/D芯片一般具有较低的采样速率.本文提出一种时间交替ADC采样技术,通过在时域上多通道并行交替采样,使采样速率达到原来单片ADC的多倍.最后进行多路交替采样试验,结果验证了该方法的正确性.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 基于FPGA的多通道并行高速采样研究
来源期刊 微型机与应用 学科 工学
关键词 时间交替采样 模数转换 并行处理
年,卷(期) 2015,(9) 所属期刊栏目 硬件与结构
研究方向 页码范围 37-39
页数 3页 分类号 TP274
字数 1626字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李华聪 西北工业大学动力与能源学院 86 932 12.0 29.0
2 王银玲 西北工业大学动力与能源学院 4 11 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
时间交替采样
模数转换
并行处理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术与网络安全
月刊
2096-5133
10-1543/TP
大16开
北京市海淀区清华东路25号(北京927信箱)
82-417
1982
chi
出版文献量(篇)
10909
总下载数(次)
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总被引数(次)
35987
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