NaI 晶体谱仪采集 X 射线能谱测量方法研究

• 作者: 张耀锋 李耀刚 王晓君 郭彬 黄建微
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 轫致辐射 能谱测量 NaI晶体谱仪 变能量区间矩阵求解法
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 页码范围: 386-389
• 页数: 4页
• 分类号: TL503
• 字数: 1951字
• 语种: 中文

摘要

为准确测量轫致辐射X射线能谱，利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应，结合理论模拟分析，提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间，可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性，从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例，进行了X射线的能谱重建。获得结果与原始能谱的相关性约为0．98。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭彬		15	39	5.0	5.0
2	黄建微		16	10	2.0	2.0
3	张耀锋	北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性教育部重点实验室	9	6	1.0	1.0
4	李耀刚	北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性教育部重点实验室	2	1	1.0	1.0
5	王晓君	北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性教育部重点实验室	1	1	1.0	1.0