双光束照明的干涉粒子成像粒子尺寸测量

• 作者: 吕且妮 吕通 张宇佳 王祥 陈婷婷
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 测量 干涉粒子成像 双光束照明 聚焦像 粒子尺寸测量
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 测量与计量
• 页码范围: 221-226
• 页数: 6页
• 分类号: TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201542.1208006

摘要

设计一种两光束相向照射,在散射角θ=90°方向记录的干涉粒子成像测量实验系统,利用模版匹配相关方法提取粒子两点像的位置坐标,根据粒子像位置坐标,粒子掩模图的形状和大小提取出单个粒子两点像.再对每个粒子两点像进行自相关、Gaussian插值提取两点像之间距离,进而计算得到粒子尺寸大小,其测量精度可达到亚像素精度.对标称值为45 μm的标准粒子进行了测量,粒径测量值为(46.54±0.50) μm,相对误差3.42％.实验结果表明了该方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕且妮		35	536	12.0	23.0
2	吕通		2	0	0.0	0.0
3	陈婷婷		3	8	1.0	2.0
4	王祥		1	0	0.0	0.0
5	张宇佳		1	0	0.0	0.0