| 篇名 | Influence of ultra-thin TiN thickness (1.4 nm and 2.4 nm) on positive bias temperature instability (PBTI) of high-k/metal gate nMOSFETs with gate-last process | ||
| 来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
| 关键词 | positive bias temperature instability (PBTI) HK/MG Ea trap energy distribution | ||
| 年,卷(期) | 2015,(12) | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 501-504 | |
| 页数 | 4页 | 分类号 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.1088/1674-1056/24/12/127305 | ||