退火温度对IrO2+ZrO2涂层结构和电容性能的影响

• 作者: 何建福 唐电 娄长影 朱君秋 林星星 邵艳群 马晓磊
• 来源期刊: 稀有金属材料与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 组织结构 电容性能 IrO2+ZrO2二元氧化物 热分解
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 材料工艺
• 页码范围: 3192-3196
• 页数: 5页
• 分类号: TQ174.44
• 语种: 中文

摘要

采用热分解法在Ti基上被覆了IrO2+ZrO2氧化物涂层.通过XRD、SEM、EDX、XPS和循环伏安法等分析了退火温度对IrO2-ZrO2二元氧化物涂层的物相、表面形貌和电容性能的影响,引用非线性方程g*(v)=A1 exp(-v/t11)+A 2exp(-v/t2)+y0计算了涂层的内外活性点.结果表明:IrO2-ZrO2涂层的临界晶化温度为340～360℃,340℃退火的涂层物相为非晶结构,360℃退火,含有晶态和非晶态2种结构组织,其离子价态为Ir3+、Ir4+以及过饱和IrO2+(x＞0).电容性能随着温度的升高呈先增大后减小变化,360℃退火的电极有最大的电容值,与其“非晶态/晶态”两相共存组织结构有关.涂层中质子迁移能力比电子导电能力对电容的影响要大,扫描速度对质子迁移的影响大于对电子导电的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐电		113	712	15.0	20.0
2	邵艳群		79	337	10.0	13.0
3	朱君秋		12	26	4.0	4.0
4	马晓磊		4	17	2.0	4.0
5	娄长影		6	21	3.0	4.0
6	何建福		2	2	1.0	1.0
7	林星星		4	2	1.0	1.0