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基于PXI总线的数字电路板测试系统设计
基于PXI总线的数字电路板测试系统设计
作者:
王勇
王孔华
王建业
陈灿
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
PXI总线
测试系统
功能模块
C语言
故障覆盖率
摘要:
针对当前数字电路板的高密度化和复杂多样化,为满足其测试需求,设计一套基于 PXI总线的数字电路板测试系统。其实现包含硬件设计和软件设计两个部分,硬件方面包含系统控制器、PXI机箱和任意波形发生器等功能模块;软件方面通过C语言进行实现。该测试系统和以往数字电路板测试设备相比,具有体积小、处理速度快、功耗低和抗干扰能力强等优点,最大限度保障了故障覆盖率。
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文献信息
篇名
基于PXI总线的数字电路板测试系统设计
来源期刊
计算机工程与设计
学科
工学
关键词
PXI总线
测试系统
功能模块
C语言
故障覆盖率
年,卷(期)
2015,(10)
所属期刊栏目
开发与应用
研究方向
页码范围
2828-2831,2837
页数
5页
分类号
TP206.3
字数
3599字
语种
中文
DOI
10.16208/j.issn1000-7024.2015.10.043
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王勇
空军工程大学防空反导学院
105
486
11.0
17.0
2
王建业
空军工程大学防空反导学院
44
185
8.0
11.0
3
陈灿
空军工程大学防空反导学院
5
15
3.0
3.0
4
王孔华
空军工程大学防空反导学院
5
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研究主题发展历程
节点文献
PXI总线
测试系统
功能模块
C语言
故障覆盖率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机工程与设计
主办单位:
中国航天科工集团二院706所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7024
CN:
11-1775/TP
开本:
大16开
出版地:
北京142信箱37分箱
邮发代号:
82-425
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
18818
总下载数(次)
45
总被引数(次)
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