脉冲电流宽度对镁合金微弧氧化过程的影响

• 作者: 刘东杰 葛延峰 蒋百灵
• 来源期刊: 稀有金属材料与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 镁合金 微弧氧化 脉宽 能量消耗
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 材料科学
• 页码范围: 1948-1952
• 页数: 5页
• 分类号: TG174.4|TG146.2+2
• 语种: 中文

摘要

为了揭示脉冲电流宽度对AZ31B镁合金微弧氧化过程的影响规律,利用示波器记录电流波形,借助涡流测厚仪测量陶瓷层厚度,采用扫描电子显微镜观察陶瓷层表面和截面形貌,根据电压变化曲线计算微弧氧化过程能量消耗.结果表明,随着脉宽由15 μs增至90 μs,起弧时间由358 s缩短至25 s,起弧电压先降低后升高并在脉宽30 μs时达到最小值183 V;陶瓷层表面放电微孔孔径增大,微孔数量减少,陶瓷层厚度增加但致密度下降;起弧过程能量消耗随脉宽增大先降低后升高,并在脉宽为30μs时达到最小值3.9 kJ;陶瓷层生长过程能量消耗随脉宽增大近似成倍增加;单位厚度陶瓷层的生长能耗先降低后平稳增长,同样在脉宽30 μs时达到最小值10.2 kJ.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋百灵		241	5240	40.0	64.0
2	刘东杰		18	136	7.0	11.0
3	葛延峰		12	70	5.0	8.0