基于VBM-DARTEL的局灶性皮质发育不良脑灰质体积异常检测方法

• 作者: 刘长青 庞清华 张大保 景斌
• 来源期刊: 中国医学物理学杂志
• 关键词: 局灶性皮质发育不良 结构磁共振 基于体素的形态学测量方法 灰质体积
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 脑科学与神经物理
• 页码范围: 330-335
• 分类号: R318
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-202X.2016.04.002

摘要

目的:局灶性皮质发育不良(Focal Cortical Dysplasia,FCD)是导致药物难治性癫痫的重要病因之一.如何应用磁共振影像探究FCD全脑解剖结构的异常变化部位和定位,对临床诊断和治疗具有重要意义.方法:本文建立一种基于VBM-DARTEL的FCD脑灰质异常检测方法.该方法包括对磁共振结构像进行图像分割、DARTEL模板制作、图像标准化等,最后使用双样本独立t检验统计分析患者组和对照组全脑灰质体积的差异,从而得到FCD脑灰质的病变特征.结果:与正常对照组相比,FCD患者组双侧大脑半球存在广泛脑区的灰质体积异常;FCD患者的脑灰质存在萎缩,并伴有灰质体积异常增大的脑区,且多集中在额叶和颞叶等区域.结论:基于DARTEL的VBM方法可以有效地检测FCD患者脑灰质体积的异常变化,且能准确定位FCD病灶.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘长青	首都医科大学附属北京三博脑科医院神经外科	9	4	1.0	1.0
2	景斌	首都医科大学生物医学工程学院	12	46	4.0	6.0
3	张大保	首都医科大学生物医学工程学院	6	15	2.0	3.0
4	庞清华	首都医科大学生物医学工程学院	3	12	1.0	3.0