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X-ray Spectra Calculations for Inspection of Semiconductors with Different Target/Filter Combinations Using MCNPX
X-ray Spectra Calculations for Inspection of Semiconductors with Different Target/Filter Combinations Using MCNPX
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摘要：
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内容分析
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文献信息
| 篇名 | X-ray Spectra Calculations for Inspection of Semiconductors with Different Target/Filter Combinations Using MCNPX | ||
| 来源期刊 | 物理科学与应用：英文版 | 学科 | 物理学 |
| 关键词 | |||
| 年，卷（期） | 2016,（4） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 8-12 | |
| 页数 | 5页 | 分类号 | O4 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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期刊影响力
物理科学与应用：英文版
主办单位：
美国大卫出版公司
出版周期：
双月刊
ISSN：
2159-5348
CN：
开本：
出版地：
武汉洪山区卓刀泉北路金桥花园C座4楼
邮发代号：
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语种：
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425
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