基于EALCD的散斑照相术物面位移测试研究

• 作者: 刘喆 刘海欧
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 散斑照相 EALCD 杨氏条纹 位移
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 测试、试验与仿真
• 页码范围: 74-79
• 页数: 6页
• 分类号: TN247
• 字数: 2653字
• 语种: 中文

摘要

为了解决全息干板使用过程中显影、定影等一系列繁琐的问题，应用电寻址液晶（EALCD）和传统的散斑照相光路相结合，用CCD代替底片或全息干板记录散斑图样，用EALCD实现散斑图的再现，所有散斑图样都由计算机存储，这样就弥补了传统散斑照相技术的不足。对测量的基本原理、实验光路的布置进行了研究，给出了实验结果，记录和再现光路都是在泰曼格林光路的基础上进行修改，整个实验过程光路结构简单，应用的光学元器件少，将EALCD放置在光路中的相应位置实现杨氏条纹的再现，实验结果准确可靠、测量精度高。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘喆		17	33	3.0	5.0
2	刘海欧	中国电子科技集团公司光电研究院	4	4	1.0	2.0