水稻半显性矮秆基因Si-dd1的表型分析和精细定位

• 作者: 任德勇 叶卫军 吴立文 崔永涛 胡兴明 胡时开 葛常伟 董国军 郭龙彪
• 来源期刊: 中国水稻科学
• 学科: 农学
• 关键词: 水稻 半显性 矮秆 遗传分析 图位克隆
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 152-160
• 页数: 9页
• 分类号: Q755|S51101
• 字数: 6109字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16819/j.1001-7216.2016.5113

摘要

以粳稻品种日本晴在组织培养过程中分离出来的一个半显性矮秆突变体Si-dd1为研究对象,通过形态学分析,发现与野生型日本晴相比,矮秆Si-dd1(AA)和半矮秆Si-dd1(Aa)植株的株高降低.结实率下降,生育期延长,一次枝梗和二次枝梗增加.激素处理结果表明突变体Si-dd1(AA)与野生型对油菜素内酯反应基本相同,而在高浓度赤霉素处理下,突变体Si-dd1(AA)表现为一定程度上的钝感.Western blot对GID2表达量分析也确定这一结果.组织切片实验表明,突变体Si-dd1(AA)相对于野生型叶片主脉气孔变小,叶肉细胞增多,茎维管束数目增加.遗传分析结果表明该突变体基因受一对核基因控制.进一步利用分子标记将该基因定位在水稻第6染色体约244 kb区间内,目前该区段并未发现已报道的矮秆相关基因.