基于污点分析的嵌入式设备固件模糊测试方法

• 作者: 戴忠华 王婷 赵波 邹力
• 来源期刊: 四川大学学报（工程科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式 固件 漏洞挖掘 污点 危险权重
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 第九届中国可信计算与信息安全学术会议(CTCIS 2015)推
• 页码范围: 125-131
• 页数: 7页
• 分类号: TP309
• 字数: 6232字
• 语种: 中文
• DOI: 10.15961/j.jsuese.2016.02.018

摘要

针对现嵌入式设备固件的特点,提出一种基于污点分析的改进模糊测试方法.该方法首先从漏洞利用的角度分析固件的攻击面,然后根据攻击面导出相应的安全规则,并在污点分析结果中引入了测试用例危险权重,最后设计了与危险权重相对应的模糊测试用例集合.通过利用该方法对主流设备进行的漏洞挖掘实验,成功发现隐藏于设备固件中的若干零日漏洞.实验结果证明,该方法具备一定的有效性和实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵波	武汉大学计算机学院	63	547	12.0	20.0
2	邹力	武汉大学计算机学院	18	93	4.0	9.0
3	戴忠华	武汉大学计算机学院	11	88	6.0	9.0
5	王婷		12	79	6.0	8.0