高速WDM相邻通道隔离度测试探究

• 作者: 张贺 杨宏博 沈世奎 王元杰
• 来源期刊: 邮电设计技术
• 学科: 工学
• 关键词: WDM ODU OTU 通道隔离度 插损
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: ?本期关注/Monthly Focus
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TN929.1
• 字数: 1507字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16463/j.cnki.issn1007-3043.2016.03.004

摘要

通过一次骨干网40G波分系统验收，现场测试解复用器相邻通道隔离度均不达标，进而发现业界现行普遍适用的简化测试方法在实际高速WDM系统测试中可能会出现测试结果不满足指标的问题，经过查找相关标准资料及理论分析，对现有测试方法进行归纳整理，实际验收测试时候，要根据不同的业务信号来选择不同的测试方法，对业界日后的40G、100G等高速波分系统测试有一定的指导作用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈世奎		19	61	5.0	6.0
2	张贺		11	16	3.0	3.0
3	王元杰		5	1	1.0	1.0
4	杨宏博		2	1	1.0	1.0