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Hot-Carrier Effects on Total Dose Irradiated 65 nm n-Type Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors
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摘要：
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| 篇名 | Hot-Carrier Effects on Total Dose Irradiated 65 nm n-Type Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors | ||
| 来源期刊 | 中国物理快报（英文版） | 学科 | |
| 关键词 | @@ | ||
| 年，卷（期） | 2016,（7） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 117-119 | |
| 页数 | 3页 | 分类号 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.1088/0256-307X/33/7/076102 | ||
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期刊影响力
中国物理快报(英文版)
主办单位：
中国物理学会
出版周期：
月刊
ISSN：
0256-307X
CN：
11-1959/O4
开本：
16开
出版地：
北京中关村中国科学院物理研究所内
邮发代号：
创刊时间：
1984
语种：
eng
出版文献量（篇）
14318
总下载数（次）
0
总被引数（次）
26201
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