基于FPGA的频率特性测试仪的设计

• 作者: 李鹏
• 来源期刊: 电脑知识与技术：学术交流
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA DDS正交信号发生器 幅频特性 相频特性
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 页码范围: 218-220
• 页数: 3页
• 分类号: TM935

摘要

该频率特性测试仪主要包括系统控制部分,双路同步DAC部分,被测网络部分,信号采集处理部分,显示部分和电源部分。全系统以FPGA为主体,正交扫频信号源采用双通道高速DA模块实现,可产生两路正交输出的信号,扫频范围及扫频步进值可设置。被测网络由一个RLC串联谐振电路构成。频率特性测试及显示部分使用正交解调原理,将经过被测网络的信号与两路正交信号相乘,经低通滤波后,由单片机ADC采集数据,经单片机处理后在示波器屏上画出幅频特性曲线和相频特性曲线。通过调试和完善完成了题目要求的基本部分和发挥部分,并有自己创新的部分。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李鹏	西藏民族大学电子设计实践实验中心	50	36	3.0	4.0