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一种嵌入式电阻器宇航适用性研究
一种嵌入式电阻器宇航适用性研究
作者:
孔鹏
张延伟
张红旗
毛喜平
王智彬
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
嵌入式电阻器
结构分析
评估试验
宇航适用性
摘要:
为了满足航天电子产品小型化的发展需求,对某商用印制板的嵌入式电阻器的宇航适用性进行了研究.通过结构分析和一系列的评估试验,发现了该嵌入式电阻器的优缺点,并绘出了其宇航适用性的初步结论.
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文献信息
篇名
一种嵌入式电阻器宇航适用性研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
嵌入式电阻器
结构分析
评估试验
宇航适用性
年,卷(期)
2016,(3)
所属期刊栏目
电子元器件与可靠性
研究方向
页码范围
23-28
页数
6页
分类号
TM54
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.005
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
张延伟
24
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6.0
9.0
2
毛喜平
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3
张红旗
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王智彬
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孔鹏
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研究主题发展历程
节点文献
嵌入式电阻器
结构分析
评估试验
宇航适用性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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