电磁脉冲对MMIC电路中MIM电容的损伤分析

• 作者: 何婷 史广芹 唐旭 宋燕 董作典 韩宝妮
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电磁脉冲 微波单片集成电路 金属-绝缘体-金属电容 失效分析
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 13-18
• 页数: 6页
• 分类号: TN454.06
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.003

摘要

电容失效是电子电路中常见的故障.通过对某QPSK调制器微波单片集成电路(MMIC)进行失效分析,确定了该产品出现的故障是由MIM电容引起的,进一步地通过故障原因排查和故障机理分析,得知该MIM电容故障是由电磁脉冲(EMP)引起的,最后通过设计试验使故障复现,验证了分析结果的正确性,从而为今后MMIC的老炼试验设计提供了指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩宝妮		4	2	1.0	1.0
2	董作典		5	2	1.0	1.0
3	唐旭		2	1	1.0	1.0
4	宋燕		3	1	1.0	1.0
5	何婷		2	1	1.0	1.0
6	史广芹		2	1	1.0	1.0