应用于空间粒子探测的Si-PIN传感器电子辐照测试

• 作者: 孙莹 张焕新 张珅毅 杨垂柏 沈国红 王风 荆涛 闫雪梅
• 来源期刊: 空间科学学报
• 学科: 航空航天
• 关键词: 高能电子 半导体传感器 辐照 噪声
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 空间探测技术
• 页码范围: 932-937
• 页数: 6页
• 分类号: V476.4
• 字数: 2533字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11728/cjss2016.06.932

摘要

长期的高能电子辐照会对Si-PIN传感器探测性能造成影响,为了考核应用器件耐电子辐照能力,采用电子辐照源模拟空间电子环境对半导体传感器进行辐照试验.试验结果表明:传感器在接收7.64×1014辐照剂量情况下,传感器能量响应能力未发生改变,计数效率稍有下降;随着辐照剂量的增大,虽然传感器漏电流不断增大,但是噪声水平较平稳,传感器的性能不影响载荷工作指标.