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摘要:
本文系统地介绍了Si-PIN探测器对带电粒子、中子、射线的探测原理.针对灵敏面积为φ30mm×420μm的Si-PIN探测器,详细地介绍了设计方法和工艺流程,并指出了影响探测器性能的关键工艺.采用离子注入和平面工艺不仅能够降低漏电流,提高探测器的能量分辨率,而且使得探测器对高温环境和真空都很稳定.最后初步介绍了探测器的电特性(I-V特性,C-V特性)的变化趋势,以及探测特性参数的测量方法.
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内容分析
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文献信息
篇名 离子注入型Si-PIN半导体探测器的研制
来源期刊 真空电子技术 学科 工学
关键词 Si-PIN探测器 离子注入 漏电流 能量分辨率
年,卷(期) 2011,(6) 所属期刊栏目 工艺与应用
研究方向 页码范围 47-50
页数 分类号 TL814
字数 2331字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8935.2011.06.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 卜忍安 西安交通大学电子物理与器件研究所 17 74 4.0 8.0
2 宋明东 西安交通大学电子物理与器件研究所 1 5 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
Si-PIN探测器
离子注入
漏电流
能量分辨率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
双月刊
1002-8935
11-2485/TN
大16开
北京749信箱7分箱
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