高精度SRAM端口时序参数测量电路的设计与实现

• 作者: 李恒 王琴 蒋剑飞
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 时序参数测量 建立/保持时间 数据读取时间 数字时间转换器
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 页码范围: 125-128,132
• 页数: 5页
• 分类号: TN492
• 语种: 中文

摘要

对一种普通的数字时间转换器（Digital‐to‐Time Converter ，DTC）进行了改进，能实现对输入信号延时的两级调节，一级粗调，一级精调，在SM IC 130 nm工艺下，调节范围为0～2．0 ns ，调节精度达到5 ps ，同时减少了一半的面积，优化了结构的非线性误差．利用改进后的DTC结构，设计了两种测量方案，分别实现了对SRAM输入端口的建立时间、保持时间及输出端口的数据读取时间的测量．仿真结果表明，该电路对SRAM 各个端口时序参数测量的误差小于3．33％．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋剑飞	上海交通大学微电子学院	29	89	3.0	9.0
2	王琴	上海交通大学微电子学院	74	297	11.0	16.0
3	李恒	上海交通大学微电子学院	6	14	3.0	3.0