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摘要:
高能电子照相是一种新兴的无损探测技术,可以在不拆解客体的情况下对客体材料及其内部结构进行定量测量.与高能质子照相相比,其分辨能力更高,可达到亚μm量级,有望成为介观现象诊断的有力工具.为研究相互作用和成像束线对成像模糊度的影响,采用Geant4模拟软件,建立12 GeV电子束从客体到像平面全过程照相模型,主要分析了成像束线引起的色差模糊、客体纵向长度引起的模糊以及次级粒子造成的模糊.研究结果表明,高能电子照相成像模糊为亚μm量级,其中成像束线引起的色差模糊为主要贡献项,次级粒子和客体纵向长度引起的模糊可以忽略.
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文献信息
篇名 高能电子照相成像模糊模拟研究
来源期刊 强激光与粒子束 学科 物理学
关键词 无损探测技术 电子照相 成像模糊
年,卷(期) 2016,(1) 所属期刊栏目 粒子束技术
研究方向 页码范围 12-16
页数 5页 分类号 O436.3
字数 3132字 语种 中文
DOI 10.11884/HPLPB201628.014002
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研究主题发展历程
节点文献
无损探测技术
电子照相
成像模糊
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
出版文献量(篇)
9833
总下载数(次)
7
总被引数(次)
61664
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