基于图像特征的平面二维尺寸测量系统

• 作者: 冯威 袁家发 金一 魏烨 魏珅
• 来源期刊: 机械设计
• 学科: 工学
• 关键词: 测量系统 特征识别 图像拼接 亚像素处理 图像处理
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 设计领域综述
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TH39
• 语种: 中文

摘要

分析图像处理在测量零件的平面二维特征尺寸中的应用价值,针对大型工件二维平面特征的测量对象,设计了一个基于图像特征识别的非接触式光学尺寸测量系统.采用网格构造分区处理的图像拼接方法扩展测量范围,实现了对大型特征的完整采集.采用校正标定方法和相机校正方法减小测量系统的机械装置、光学系统等误差,提高测量精度.在对二维平面关键特征分析的基础上,利用亚像素处理提高算法精度,使最终测量精度可达到微米级.试验结果表明,该测量系统图像拼接精度可达0.8 μm,测量精度高于5μm.该系统为图像处理在工业上大型工件尺寸检测方面的应用开发提供了有效的基础方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏珅		12	54	5.0	7.0
2	金一		15	104	4.0	10.0
3	魏烨		1	0	0.0	0.0
4	袁家发		2	2	1.0	1.0
5	冯威		1	0	0.0	0.0