基于时间交替采样技术的高速高精度ADC系统

• 作者: 苏淑靖 骈洋
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 时间交替采样 通道失配误差 误差矫正 高速采样
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 1397-1401
• 页数: 5页
• 分类号: TN957.5
• 字数: 2644字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2016.06.023

摘要

介绍了一种基于时间交替采样结构的高速ADC系统,整个系统采用全数字方式实现时间交替采样技术,结构灵活多变.使用2片ADC芯片及外围电路、FPGA作为逻辑控制和数据接收缓存,来搭建时间交替ADC系统的硬件电路.其最高采样率可达400 Msample/s,采样精度为12 bit.通过分析时间交替ADC系统的原理及其通道误差特性,利用Matlab分析通道失配误差来源,对采集到的数据进行误差估计和校正.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏淑靖	中北大学电子测试技术重点实验室	52	289	9.0	14.0
2	骈洋	中北大学电子测试技术重点实验室	2	6	1.0	2.0