基于过采样技术提高ADC分辨率探析

• 作者: 李君
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 过采样 模/数转换器 信噪比 分辨率
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 科学计算与信息处理
• 页码范围: 160-162
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.06.048

摘要

近年来,许多系统都需要使用模/数转换器ADC进行测量,将模拟信号转换为数字信号.为了简化系统电路和降低生产成本,在充分利用ADC采样速度的条件下,通过过采样技术提高ADC的分辨率.这里基于ADC的基本结构,采用叠加成形函数的方法,介绍了用过采样的方法来达到较高分辨率和信噪比,得出采样技术可以在不使用昂贵的ADC芯片的情况下提高模/数转换的分辨率.