功率高压LED模组在不同应力下的老化实验

• 作者: 李松宇 谭祖雄 郭伟玲 雷珺
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: 白光LED 老化 光通量 光衰
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 所属期刊栏目: 器件制备及器件物理
• 页码范围: 804-808
• 页数: 5页
• 分类号: TN312.8
• 字数: 2992字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/fgxb20163707.0804

摘要

对LED进行应力加速老化实验及分析可以对器件可靠性做出最快、最有效的评估.本文将相同的6V高压功率白光LED分为两组,一组施加180 mA电流应力和85℃温度应力进行高温老化实验,另一组施加180 mA电流应力、85℃高温和85％相对湿度进行高温高湿老化实验.在老化过程中,测试了LED光电参数随老化时间的变化规律.实验结果表明:高温大电流应力下的样品的光退化幅度为0.9％～3.4％,高温高湿大电流应力下的样品的光退化幅度为25.4％～ 27.8％,高温高湿下样品的老化程度远高于高温老化下样品的老化程度,湿度对LED可靠性有显著的影响.退化的原因包括荧光粉的退化和器件内部欧姆接触退化等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭伟玲	北京工业大学电控学院光电子技术省部共建教育部重点实验室	74	656	10.0	23.0
2	李松宇	北京工业大学电控学院光电子技术省部共建教育部重点实验室	8	22	3.0	4.0
3	雷珺	北京工业大学电控学院光电子技术省部共建教育部重点实验室	2	12	2.0	2.0
4	谭祖雄	北京工业大学电控学院光电子技术省部共建教育部重点实验室	1	7	1.0	1.0