基于RTS噪声测量与参量的提取

• 作者: 樊欣欣 陈晓娟
• 来源期刊: 电力电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 噪声 互谱测量 特征参量
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 器件与测试
• 页码范围: 103-105
• 页数: 3页
• 分类号: TM937.4
• 字数: 1967字
• 语种: 中文

摘要

RTS噪声是探测小尺寸器件缺陷的有效手段,是表征纳米MOSFET’器件可靠性的重要敏感参数,为了能够准确测量RTS噪声并提取特征参量,设计了具有二级抑噪的低噪声偏置电路,采用双通道互谱测量法对RTS噪声进行测量,利用EMD处理非平稳噪声信号后对参量进行提取.实验结果表明,相同采样点时,参量提取的误差比传统方法减小30％.相同精度时,采样点仅为传统方法采样数目的1/10.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈晓娟	长春理工大学电子信息工程学院	13	47	4.0	6.0
2	樊欣欣	东北电力大学信息工程学院	2	10	1.0	2.0