高压套管介质损耗及电容现场测量值分布特性

• 作者: 熊俊
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 高压套管 介质损耗 正态分布函数
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 69-77,85
• 页数: 10页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2016.06.012

摘要

研究套管介质损耗及电容量增量测试值分布特性有利于从宏观上掌握运行高压套管绝缘健康水平.文中基于大量现场数据样本,综合采用直方图法和非参数检验法,获得了不同电压等级、不同环境温度、不同环境湿度、不同生产厂家、不同运行时间等多个维度下的运行高压套管tanδ值及电容量增量的正态分布曲线.结果表明:对早期工艺水平及运行时间越长的套管,其测试值正态分布曲线均值、标准偏差越大;不同环境湿度下运行高压套管tanδ及电容量增量的正态分布曲线差异与湿度范围有关,当环境湿度高于80％时差异性才较为明显;不同环境温度下运行高压套管tanδ及电容量增量的正态分布曲线差异相对较小.运行高压套管tanδ及电容量增量允许值的规定应考虑制造工艺水平和不同地区之间的差异性.提出该地区110、220、500 kV电压等级运行高压套管tanδ允许值可分别调整为0.8％、0.7％、0.6％,且超过0.5％时应缩短周期或采用高电压介损测试等其他方法进行跟踪.电容量变化允许值可调整为±3％,且超过±2％时应查明原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊俊	广州供电局有限公司电力试验研究院	37	246	8.0	15.0