数字集成器件测试仪的研制与设计

• 作者: 刘春梅 曹文
• 来源期刊: 江苏科技信息
• 关键词: AT89S52 数字集成器件 芯片检测 上位机
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 技术探讨
• 页码范围: 53-54
• 页数: 2页
• 字数: 861字
• 语种: 中文

摘要

文章采用AT89S52单片机作为主控芯片，设计了一种能够对常用的TTL和CMOS集成器件进行测试的数字集成器件测试仪，该仪器可实现对已知型号的集成器件质量测定以及对未知型号器件的功能识别；测试结果用LCD液晶模块显示；同时系统还设计有完善的上位机系统，PC机可通过RS232串口对测试系统的数据库进行升级。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘春梅		28	64	5.0	7.0
2	曹文		29	63	4.0	7.0