基于VXI PXI Digital I/O卡的诊断算法研究

• 作者: 黄顺福
• 来源期刊: 微型机与应用
• 学科: 工学
• 关键词: PXI VXI Digital I/O 错误模型 诊断算法 自动化诊断系统
• 年，卷（期）: 2016,（20）
• 所属期刊栏目: 技术与方法
• 页码范围: 75-78
• 页数: 4页
• 分类号: TP29
• 字数: 4097字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19358/j.issn.1674-7720.2016.20.021

摘要

针对目前在生产测试平台中广泛使用的高密度VXI PXI Digital I/O板卡容易损坏且故障定位困难、不便维修和维护的情况,开展了对其进行故障定位的诊断算法研究.研究了包括各种可能出现的错误模型及其相互关系,以及检测和定位这些错误模型的相应算法,并应用相应的算法成功地开发了高密度VXI PXI Digital I/O板卡的自动化诊断系统,大幅提高了生产效率,降低了维护成本,提高了经济效益.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄顺福		2	0	0.0	0.0