基于免疫粒子群文化算法的数字电路故障诊断

• 作者: 申延强 韩华亭
• 来源期刊: 火力与指挥控制
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 测试生成 测试矢量 免疫粒子群算法 文化算法
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 工程实践
• 页码范围: 192-195
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3680字
• 语种: 中文

摘要

为改善粒子群算法摆脱局部极值点的能力，提升种群进化的多样性，将免疫算法中免疫机制引入到粒子群算法中形成免疫粒子群算法；为有效提高故障覆盖率和缩短测试生成时间，将免疫粒子群算法引入文化算法框架中形成免疫粒子群的文化算法。将其应用于数字电路故障模型仿真实验并与其他测试生成算法进行对比，结果表明该算法能够有效提高故障覆盖率，缩短测试生成时间，在大规模电路测试生成与故障诊断中更具优势。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩华亭	空军工程大学防空反导学院	38	111	7.0	8.0
2	申延强	空军工程大学防空反导学院	1	2	1.0	1.0