CVT耦合电容器残余电感形成机理分析及降低方法研究

• 作者: 冯宇 李璿 杨帆 王平 陈鹏
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 耦合电容器 残余电感 阻抗特性 引线片 高频性能
• 年，卷（期）: 2016,（22）
• 所属期刊栏目: 工程应用与技术交流
• 页码范围: 102-106,122
• 页数: 6页
• 分类号: TM934
• 字数: 2783字
• 语种: 中文

摘要

耦合电容器在电力系统高频保护、电压测量以及过电压抑制中起着重要作用.但受构成元件及制造工艺所限,其不可避免地存在残余电感,进而影响到其高频性能.本文研究了残余电感的形成机理,设计了三种具有不同引线片结构的耦合电容器,利用阻抗分析仪对其残余电感进行测量和对比分析.分析与测量结果表明:引线片是耦合电容器残余电感的重要组成部分,残余电感的大小与引线片尺寸密切相关,引线片越宽、残余电感越小.研究结果可用于改进耦合电容器的设计以提高其高频性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王平	华北电力大学电气与电子工程学院	33	141	7.0	11.0
2	杨帆		9	13	2.0	3.0
3	陈鹏		4	16	1.0	4.0
4	李璿		10	33	4.0	5.0
5	冯宇		23	174	8.0	12.0