Study on electrical defects level in single layer two-dimensional Ta2O5

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篇名	Study on electrical defects level in single layer two-dimensional Ta2O5
来源期刊	中国物理B（英文版）	学科
关键词	single layer electronic defects spectroscopic ellipsometry
年，卷（期）	2016,（4）	所属期刊栏目
研究方向		页码范围	339-343
页数	5页	分类号
字数		语种	中文
DOI	10.1088/1674-1056/25/4/047304

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