射频开关在高低温电测试试验中的失效分析及改进

• 作者: 孙绍强 李鑫 龚秀丽
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: 射频开关 单刀双掷 低温电测试 高温电测试 失效分析
• 年，卷（期）: 2016,（23）
• 所属期刊栏目: 测量与控制
• 页码范围: 115-118,121
• 页数: 5页
• 分类号: TN0
• 字数: 2329字
• 语种: 中文

摘要

本文针对射频开关在高低温电测试试验中，出现的各种接触不良现象，进行了失效分析，找出了失效原因，提出了改进措施，其中最主要的改进措施是更改射频开关辅助簧片上推杆作用力的位置。该措施采用ANSYS软件对辅助簧片进行了应力仿真分析，并结合改进前后的高低温电测试试验，得出了改进后射频开关辅助簧片对静触点的作用力增大，解决了辅助簧片接触不良的现象。因此，改进后的射频开关具有更好的可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李鑫	中国电子科技集团公司第四十研究所	22	79	5.0	8.0
2	孙绍强	中国电子科技集团公司第四十研究所	4	13	2.0	3.0
3	龚秀丽	中国电子科技集团公司第四十研究所	3	2	1.0	1.0