镀金引线低温玻璃密封失效分析及其改进措施

• 作者: 丁荣峥 朱玲华 肖汉武
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 低温玻璃熔封 镀金引线 气密性 失效分析
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 24-29
• 页数: 6页
• 分类号: TN305.94
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.02.006

摘要

气密性封装产品的气密性和气密可靠性对产品的长期使用寿命和可靠性是至关重要的.主要分析了镀金引线低温玻璃密封失效的原因,并针对分析中发现的引线与玻璃之间存在微裂纹现象进行了结构优化和验证,解决了产品密封的一致性和可靠性问题,并为相同结构封装的密封可靠性水平的提高提供了一定的参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁荣峥	中国电子科技集团公司第五十八研究所	19	65	4.0	7.0
2	肖汉武		7	10	3.0	3.0
3	朱玲华		1	0	0.0	0.0