电离层H2O释放扰动效应的数值模拟研究

• 作者: 方涵先 汪四成 高泽
• 来源期刊: 空间科学学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 化学物质释放 电离层扰动 电离层洞 扩展F
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 日球层物理与太阳系探测
• 页码范围: 39-49
• 页数: 11页
• 分类号: P352
• 字数: 6321字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11728/cjss2017.01.039

摘要

为充分研究化学物质在电离层释放的扰动效应和后期发展效果,基于化学物质在电离层的扩散模型、化学反应和电离层扩展F的控制模型,通过电离层H2O的释放,研究电子e,H2O,O+和H2O+共4种粒子的分布状态,分析点源、多源和线源释放对电离层的扰动效果,比较不同高度、不同量和不同时间释放的影响结果,模拟夜间释放后期所激发的扩展F发展差异.结果表明,H2O在电离层释放后,能有效耗散背景电子形成空洞,O+和H2O+数密度呈椭圆形分布;点源、多源和运动目标线源等不同释放方式对电离层的扰动效果不同,证实了人工影响一定形态和区域电离层的可能性;H2O释放扰动幅度,低层大于高层,白天强于夜晚,释放量越多扰动越突出;夜间化学释放能激发扩展F,并且释放量越多,激发效果越好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方涵先	解放军理工大学气象海洋学院	38	135	6.0	9.0
2	高泽	解放军理工大学气象海洋学院	2	2	1.0	1.0
3	汪四成	解放军理工大学气象海洋学院	14	33	3.0	4.0