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摘要:
主要介绍了非接触智能卡兼容性测试方法及测试系统设计,重点阐述非接触智能卡兼容性测试存在的问题,并针对问题提出兼容性测试方法及兼容性测试系统的设计实现.该设计为非接触智能卡兼容性测试积累经验,以期降低非接触智能卡产品应用的兼容性风险.
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文献信息
篇名 非接触智能卡兼容性测试系统设计
来源期刊 信息技术与网络安全 学科 工学
关键词 非接触智能卡 兼容性测试 非接触读卡器
年,卷(期) 2017,(14) 所属期刊栏目 网络与通信
研究方向 页码范围 64-67
页数 4页 分类号 TP393.08
字数 3515字 语种 中文
DOI 10.19358/j.issn.1674-7720.2017.13.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘丽丽 北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室 4 1 1.0 1.0
2 王丰 北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室 3 1 1.0 1.0
传播情况
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2017(0)
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研究主题发展历程
节点文献
非接触智能卡
兼容性测试
非接触读卡器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术与网络安全
月刊
2096-5133
10-1543/TP
大16开
北京市海淀区清华东路25号(北京927信箱)
82-417
1982
chi
出版文献量(篇)
10909
总下载数(次)
33
总被引数(次)
35987
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