高频或低频重复经颅磁刺激治疗对抑郁障碍患者局部脑内代谢物质的影响

• 作者: 刘林晶 孙剑 徐乐平 惠李 朱程
• 来源期刊: 临床精神医学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 重复经颅磁刺激 抑郁障碍 前额叶皮质 磁共振波谱
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: R749.4
• 字数: 3629字
• 语种: 中文

摘要

目的：探讨高频或低频重复经颅磁刺激（rTMS）治疗对抑郁障碍患者局部脑内代谢物质的影响。方法：随机将40例抑郁障碍患者分成高频和低频 rTMS 组并进行相应的 rTMS 治疗4周。治疗前后应用汉密尔顿抑郁量表（HAMD）评定患者的病情，应用氢质子磁共振波普成像（1 H-MRS）检测前额叶皮质 N-22乙酰天门冬氨酸（NAA）、谷氨酸（Glx）、胆碱复合物（Cho）及肌酸（Cr）代谢物水平，并与20名正常对照者（对照组）比较。结果：两 rTMS 组分别有12例患者完成治疗，治疗后两组 HAMD 评分显著低于治疗前（P 均﹤0.01）。与对照组比较，治疗前两 rTMS 组左侧前额叶皮质 NAA/ Cr、Glx/ Cr、右侧前额叶皮质 NAA/ Cr 显著降低（P 均﹤0.01），治疗后都有明显升高（P 均﹤0.05）。结论：抑郁障碍患者双侧前额叶 NAA 及左侧前额叶 Glx 水平降低；高、低频 rTMS 治疗后患者双侧前额叶 NAA 及左侧前额叶 Glx 水平提高，可能是 rTMS 治疗抑郁障碍的机制之一。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐乐平		52	336	9.0	15.0
2	孙剑		49	341	9.0	16.0