MLCC叠层空洞判别超声检测技术研究

• 作者: 刘磊 卢思佳 周帅 王斌
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 片式多层瓷介电容器 超声检测技术 内部缺陷 叠层空洞 扫描模式
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 30-34
• 页数: 5页
• 分类号: TM534+.1|TP274+.53
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.05.007

摘要

通过对超声检测技术的原理进行分析,并将其与X射线检查和制样镜检技术分别进行对比,阐述了超声检测技术在检测片式多层瓷介电容器(MLCC)的裂纹、 分层和空洞等内部缺陷方面的优势.对超声显微镜的扫描原理和扫描模式进行分析,确定了MLCC内部空洞缺陷超声检测的判定方法.并利用B扫描模式对ML-CC的叠层空洞进行了判别和区分,对于提高MLCC超声检测技术检测结果的准确性具有指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王斌		10	4	1.0	1.0
2	周帅		13	6	2.0	2.0
3	卢思佳		6	6	2.0	2.0
4	刘磊		4	6	2.0	2.0