“正方形”MLCC产品的DPA与无损检测

• 作者: 吕素果 张杰 杜红炎 董松
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 多层瓷介电容器 超声波扫描显微镜 破坏性物理分析
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 计量与测试技术
• 页码范围: 28-31
• 分类号: TM534+.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.02.007

摘要

对多层瓷介电容器(MLCC)产品进行超声波无损检测时,要求使MLCC的内电极平行于水平面放置.而对于那些无法知道内电极排列方向的“正方形”产品,就很容易漏检.而且,这类产品在做DPA检测时,无法正确地码放也成了一个问题—既浪费了样品又浪费了时间.因此,对于这类的MLCC产品,能够正确地辨认内电极排列的方向就显得至关重要.通过对MLCC进行超声波扫描与DPA的对比试验,找到了正确辨认内电极排列的方法,由此可以大大提高工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜红炎		2	6	1.0	2.0
2	董松		1	1	1.0	1.0
3	吕素果		2	1	1.0	1.0
4	张杰		1	1	1.0	1.0