基于四剖分的纵横嵌入问题研究

• 作者: 潘立彦
• 来源期刊: 内蒙古民族大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 超大规模集成电路 四剖分 纵横嵌入 拉格朗日反演
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 图论研究
• 页码范围: 391-394
• 页数: 4页
• 分类号: TN402|O157.6
• 字数: 2475字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14045/j.cnki.15-1220.2017.05.006

摘要

基于纵横嵌入问题的函数方程理论,建立了两类带多参数的四剖分图(四正则图)的生成函数方程,并应用拉格朗日反演得到了相应纵横嵌入图的简单计算公式.进而通过建立外平面图与哈密尔顿图的关系,推出了哈密尔顿的四剖分图的计数结果.四剖分图在超大规模集成电路设计,图论的高斯交叉数和拓扑学的扭结问题及其它纵横嵌入图的计数上都有着广泛的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘立彦	上海建桥学院商学院	11	6	2.0	2.0