粒径尺度与静电自组装薄膜结构的相关性研究

• 作者: QinguoFAN 周岚 平伟 张剑 李义臣 邵建中
• 来源期刊: 浙江理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 静电自组装 粒径 薄膜结构 组装过程 表面粗糙度 内部疏松度
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 所属期刊栏目: 材料科学与技术
• 页码范围: 796-803
• 页数: 8页
• 分类号: TS190.8
• 字数: 5707字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3851.2017.11.008

摘要

以聚乙烯亚胺(PEI)和自制的纳米SiO2为前驱体,利用静电自组装法构造SiO2/PEI结构生色薄膜,应用场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)、原子力显微镜(AFM)和成像椭圆偏振仪分析表征组装粒子的粒径与薄膜的组装过程、薄膜的表面形貌、薄膜的内部结构之间的相关性.结果表明:SiO2/PEI薄膜的静电自组装过程中,粒子的填充行为使每层粒子间的空隙减少直至该层接近饱和,粒子的叠加行为使薄膜纵向错层增长;组装粒子的粒径越大,薄膜表面的高低起伏越明显,薄膜越粗糙;薄膜的内部结构中空气占比越大,薄膜越疏松;光的散射作用因薄膜结构的缺陷始终存在,随粒子粒径的增大,光的散射作用增强,造成薄膜颜色种类少、不均匀.