火炮发射恶劣环境下存储测试仪的可靠性设计

• 作者: 裴东兴 谢锐
• 来源期刊: 火炮发射与控制学报
• 关键词: 仪器仪表技术 恶劣环境因子 电路可靠性 电池可靠性 防护壳体 真空灌封
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性、维修性与保障性
• 页码范围: 79-84
• 页数: 6页
• 分类号: TJ306
• 语种: 中文
• DOI: 10.19323/j.issn.1673-6524.2017.03.016

摘要

存储测试仪是火炮发射过程中动态参数测试的首选装置,在使用中往往面临恶劣的测试环境,其可靠性是影响测试结果的关键因素之一.通过分析恶劣环境因子对存储测试仪输出的影响,分别从电路模块、电池和防护壳体几个主要部件进行失效模式分析,并针对性地提出了提高其可靠性的有效方法,详细说明了真空灌封的工艺流程,对存储测试仪的可靠性设计有一定的价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	裴东兴	中北大学电子测试技术重点实验室	140	826	15.0	21.0
5	谢锐	中北大学电子测试技术重点实验室	30	126	6.0	9.0