互相关直径测量的相位跟踪采样控制与校正

• 作者: 何云祥 何莉 杨泽林
• 来源期刊: 计算机应用与软件
• 学科: 工学
• 关键词: 直径测量 互相关原理 嵌入式系统 相位跟踪采样 校正
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 算法
• 页码范围: 265-268,279
• 页数: 5页
• 分类号: TP271.81
• 字数: 2924字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-386x.2017.10.047

摘要

为了提高互相关法直径测量的精度,需要对工件表面误差信号进行等相位间隔跟踪整周期采样.介绍分频法实现相位跟踪采样控制的原理;对相位间隔准确度的影响进行了讨论,提出固有误差和随机误差的概念,对其产生原因进行了分析;引入附加角测量环节对采样相位间隔进行校正,给出校正算法;结合ARM7LPC2148 MCU嵌入式系统,介绍相位跟踪采样控制、校正测量及同步的具体实现.实验测试表明:转速频率波动大于千分之一,采样控制系统的分频系数即会发生改变,相位跟踪性良好;在3 000转/分以下,采样相位间隔误差控制在0.001 13度以内;证明附加角测量和采样相位间隔校正是必要的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何莉	重庆理工大学电气与电子工程学院	12	21	3.0	4.0
2	何云祥	綦江齿轮传动有限公司计量中心	6	6	2.0	2.0
3	杨泽林	重庆理工大学电气与电子工程学院	10	23	3.0	4.0