电源电路抗γ总剂量辐射性能建模与裕量与不确定性量化评估

• 作者: 李君雅 王艳 许献国 锁斌
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 抗辐射性能评估 建模 电路仿真 不确定性量化 裕量与不确定性量化
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 核科学与工程
• 页码范围: 143-149
• 页数: 7页
• 分类号: TL71
• 字数: 3840字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201729.170139

摘要

针对电源电路抗γ总剂量辐射性能评估问题,建立了元器件和电路的性能模型,并搭建测试电路对模型进行了测试.开展了辐照敏感关键元器件的γ总剂量辐照试验,获取了元器件关键参数随 γ累积总剂量变化的实验数据,将参数变化规律注入模型,开展了电源电路抗辐射性能仿真,获得了电路关键特征参数输出电压随累积总剂量的变化规律.采用裕量与不确定性量化(QMU)方法对电源电路的抗辐射性能进行评估,并与电路实际辐照实验结果进行对比,结果表明,QMU评估结果与实际实验结果保持了较好的一致性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许献国	中国工程物理研究院电子工程研究所	15	42	4.0	5.0
2	王艳	中国工程物理研究院电子工程研究所	12	75	4.0	8.0
3	锁斌	中国工程物理研究院电子工程研究所	22	97	6.0	8.0
4	李君雅	中国工程物理研究院电子工程研究所	2	5	1.0	2.0