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摘要:
集成电路制造技术的发展使单芯片集成多谱段红外探测器成为可能,其中长线列红外探测器读出电路设计遇到的挑战之一就是寄生效应.针对一款多谱段长线列用读出电路在最小积分电容时行间输出电平差异显著,导致成像出现明暗条纹的现象进行了测试分析,得出复杂的电路版图寄生效应是主要原因.通过优化设计及流片验证,解决了寄生效应导致的成像明暗条纹问题.
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文献信息
篇名 多谱段线列红外探测器读出电路设计优化
来源期刊 激光与红外 学科 工学
关键词 多谱段集成 TDI线列 读出电路 寄生效应
年,卷(期) 2017,(6) 所属期刊栏目 红外材料与器件
研究方向 页码范围 736-739
页数 4页 分类号 TN214
字数 1780字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5078.2017.06.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 喻松林 20 149 5.0 11.0
2 王成刚 17 60 4.0 7.0
3 袁媛 4 2 1.0 1.0
4 李冬冰 6 4 1.0 1.0
5 刘泽巍 6 10 2.0 2.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (0)
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参考文献  (1)
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二级引证文献  (1)
2006(1)
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2018(1)
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2019(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
多谱段集成
TDI线列
读出电路
寄生效应
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
激光与红外
月刊
1001-5078
11-2436/TN
大16开
北京8511信箱《激光与红外》杂志社
2-312
1971
chi
出版文献量(篇)
5805
总下载数(次)
16
总被引数(次)
44711
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