自适应粒子群算法在模拟电路故障诊断中的应用

• 作者: 沈昱明 郑木刚
• 来源期刊: 软件导刊
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 自适应粒子群算法
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 应用技术与研究
• 页码范围: 122-124
• 页数: 3页
• 分类号: TP319
• 字数: 3009字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11907/rjdk.162772

摘要

针对模拟电路故障诊断中存在的无法早期诊断和精确诊断的问题,提出了一种自适应粒子群算法并将其应用于模拟电路故障诊断中.试验结果表明,该算法能实现模拟电路早期软故障的精确诊断,且与其它算法相比,该自适应粒子群算法具有较强的全局寻优能力,且收敛速度快,能够更有效地解决模拟电路故障诊断问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈昱明	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	86	504	10.0	19.0
2	郑木刚	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	2	9	1.0	2.0