GaN HEMT小信号自动测试系统设计

• 作者: 付兴中 崔玉兴 张力江 杨志虎 马杰
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: Agilent VEE 微波小信号测试 等效电路参数 自动测试系统
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 设计开发
• 页码范围: 194-195,201
• 页数: 3页
• 分类号: TP202
• 字数: 1490字
• 语种: 中文

摘要

GaN HEMT器件在高频和大功率通信领域有着广泛的应用.在流片制造过程中,手动微波测试已不能满足器件性能监控的要求.本文在改进传统手动测试的基础上,介绍了一种基于Agilent VEE语言来实现器件微波小信号自动测试系统的方法.该系统解决了器件自动测试、等效电路参数计算和数据存储等问题,实现了整个测试过程自动化,大幅提升了测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔玉兴	中国电子科技集团公司第十三研究所	30	88	6.0	8.0
2	张力江	中国电子科技集团公司第十三研究所	13	32	3.0	5.0
3	马杰	中国电子科技集团公司第十三研究所	6	23	3.0	4.0
4	付兴中	中国电子科技集团公司第十三研究所	7	10	2.0	3.0
5	杨志虎	中国电子科技集团公司第十三研究所	2	0	0.0	0.0