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摘要:
文章从分析AM-OLED驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该驱动芯片的测试电路设计方案。该方案采用对芯片内的多个功能模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采用FPGA可编程测试,提高了测试的灵活性,大大提高了Source Driver测试的可控性,减少了测试管脚数目,节约了测试成本。
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 AM-OLED驱动控制芯片的测试电路设计
来源期刊 电脑知识与技术:学术交流 学科 工学
关键词 AM-OLED 驱动芯片 FPGA
年,卷(期) 2017,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 232-233
页数 2页 分类号 TP303
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭锐 中国电子科技集团公司第三十八研究所 13 32 4.0 5.0
2 高艳丽 中国电子科技集团公司第三十八研究所 10 7 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
AM-OLED
驱动芯片
FPGA
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电脑知识与技术:学术版
旬刊
1009-3044
34-1205/TP
安徽合肥市濉溪路333号
26-188
出版文献量(篇)
41621
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