PVD薄膜传感器监测强化结构裂纹的可行性研究

• 作者: 何宇廷 侯波 刘凯 崔荣洪 张天宇
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 强化结构 疲劳裂纹 裂纹监测 薄膜传感器
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 页码范围: 139-145
• 页数: 7页
• 分类号: V215.6|TP212.11
• 语种: 中文
• DOI: 10.7652/xjtuxb201807020

摘要

以基于离子镀膜技术制备的物理气相沉积(PVD)薄膜传感器和3种成熟度较高的结构强化技术为研究对象,在孔挤压强化、喷丸强化和激光冲击强化试验件上制备了PVD薄膜传感器.首先进行了静拉伸载荷下的PVD薄膜传感器与强化基体的应变对比试验,结果表明PVD薄膜传感器对强化结构高栽荷下的应变较为敏感,与强化结构结合良好,具备在高应力环境下应用的潜力;随后对比了不同强化工艺处理及表面处理状态试验件的疲劳寿命,应用显著性分析的方法,验证了PVD薄膜传感器的制备过程不会对强化基体的疲劳性能造成显著影响;最后进行了激光冲击强化试验件的疲劳裂纹在线监测试验,结果表明,PVD薄膜传感器的监测信号结果与实际观测结果吻合较好,PVD薄膜传感器与强化基体具有良好的损伤一致性,适用于强化基体的疲劳裂纹监测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何宇廷	空军工程大学航空工程学院	141	567	12.0	14.0
2	崔荣洪	空军工程大学航空工程学院	21	96	6.0	8.0
3	张天宇	空军工程大学航空工程学院	7	13	2.0	3.0
4	刘凯	空军工程大学航空工程学院	9	35	4.0	5.0
5	侯波		5	13	3.0	3.0